X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對產生的X射線熒光進行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點，已經在很多行業得到廣泛的應用。得到廣大客戶的認可。
分析元素 | Na(11)-U(92) |
測試原理 | 過X熒光激發樣品的特征譜分析 |
X射線產生裝置 | 采用牛津Rh靶的X光管，設計壽命7-10年。管電壓可在5-50KV電壓中，每1KV自動控制切換。以便更好的檢測樣品中的輕金屬和重金屬元素，從而延長光管壽命。 |
照射光路 | 下照式 |
準直器 | 8個 |
X射線濾鏡 | 5種 |
X射線照射面積 | Ф8mm、6mm、4mm、3mm、2mm、1mm、0.5mm、0.1mm |
探測器 | Amptek、高分辨率SDD探測器 |
探測器制冷方式 | 電制冷 |
分辨率 | 達到145±5eV，同時，超薄窗探測器，對輕元素探測效率* |
檢測器晶體面積 | 25mm2 |
數字多道 | 新數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000cps，精度更高，在合金檢測中效果更好 |
低能光路增強系統 | 提高對P、S等微含量元素激發效果 |
狀態顯示 | 外置90mm×70mm的液晶屏。液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然 |
真空系統 | 智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 |
樣品環境 | 大氣或抽真空 |
測試樣品類型 | 固體、液體和粉未 |
儀器大小 | 樣品腔面積：￠320mm×（高100mm） |
外形尺寸：660mm×510mm×350mm |
