MarSurf XR 20，表面度量的選項。
該計算機儀器根據國際標準為測量室或生產提供所有常見表面參數和輪廓。強大的 MarSurf XR 20 將數十年的表面度量經驗與創新技術、方便閱讀的圖標和用戶友好的操作員助手結合。
結合 GD 120 驅動裝置可有 120 mm 采樣長度。
除表面粗糙度評估之外，也可以此方式執行輪廓和波紋度評估。
該計算機儀器根據國際標準為測量室或生產提供所有常見表面參數和輪廓。強大的 MarSurf XR 20 將數十年的表面度量經驗與創新技術、方便閱讀的圖標和用戶友好的操作員助手結合。
結合 GD 120 驅動裝置可有 120 mm 采樣長度。
除表面粗糙度評估之外，也可以此方式執行輪廓和波紋度評估。
- 超過 100 種符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓
- 所有表面參數的公差監控和統計
- 快速創建 Quick&Easy 測量程序的 Teach-in 方法
- 全面的測量記錄
- 根據標準選擇濾波和掃描長度的自動功能
- 通過設置 Ra 或 Rz 參數支持各種校準方法（靜態/動態）
- 可調維護和校準間隔
- 快速熟悉操作原理的模擬模式
- 多種測量站配置可使用自定義應用
測量原則 | 探針法 |
|---|---|
輸入 | R 測頭，MFW 250 B |
測量范圍 mm | MFW 250: ±25 ?m，±250 ?m，（高達 ±750 ?m）； ±1000 ?英寸，±10,000 ?英寸（高達 ±30,000 ?英寸） |
過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 11562 標準高斯濾波，ISO 16610-21/ISO 16610-31 標準濾波 |
掃描長度（文本） | 自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm*， 測量至擋塊，可變 * 掃描長度取決于驅動裝置 |
采樣長度數量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
表面參數 | 超過 100 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的 表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓 |
- MarSurf ST 750 測量立柱
- 手動控制面板帶操縱桿和顯示器
- 平行虎鉗
- V 形塊
- 設備工作臺
- 減振系統
- 測量柜
常規軟件選項：
- MarWin 主波紋度選項 (WDc)
- ISO 13565-3 表面參數選項
- QS-STAT / QS-STAT Plus 選項
- 輪廓處理選項
- 用戶自定義參數選項
- MarSurf XR 1 / XR 20 選項輪廓 1
- 拓撲選項
- MarSurf XR 20 包含計算機、MidRange Standard、XR 20 軟件和 Mahr 許可密鑰
- TFT 顯示器
- MarSurf GD 120 驅動單元
- MFW 250 B 測頭系統組
- MarSurf ST 500 測量立柱
- PGN-3 校準標準器
- MCP 23 手動控制面板
- CT 300 XY 工作臺
