LP Silicon-PYRA 04日射強度計通過一個硅光電二極管（305nm-1100nm）測量太陽總輻射。特殊的幾何構造和散光器根據余弦定律可以測量180度范圍內的總輻射場。該日射強度計可以測量自然界的陽光。陰天時，使用熱電堆日射強度計（LP PYRA 03或LP PYRA 02）測量反射光。
LP Silicon-PYRA 04日射強度計可以測量可再生能源的太陽輻射，如太陽能光熱和太陽能光伏。LP Silicion-PYRA 04日射強度計的光譜響應沒有覆蓋所有的太陽光譜，也不是恒定的。只有LP Silicion-PYRA 04日射強度計經過光校準，且校準光的光譜和所測光譜是一致的之后，才能精確測量。在天氣晴朗的條件下，該日射強度計測量的輻射值不確定性小于3%。陰天、日出或日落時，太陽光譜和儀器校準的光譜大不一樣，因此測量誤差會增加。
技術參數：
| 典型靈敏性 | 60-100μV/(W/m2) |
| 測量范圍 | 0…1400W/m2 |
| 光譜范圍 | 350nm…1100nm |
| 響應時間 | 0.5秒 |
| 非線性 | 1% |
| 穩定性 | <±2%每年 |
| 溫度漂移 | <±0.15%/℃ |
| 校準的不確定性 | <3% |
| 根據余弦定律響應 | ±3%（在0°…75°范圍內） |
| 工作溫度 | -40℃…+ 65℃ |
| 阻抗輸出 | 25Ω |
