阻抗分析儀 6632-3/3S
益和6632阻抗分析儀，提供 5 種頻率選項（10 Hz 至3/5/10/20/30 MHz），可在不同測量條件下進行高速連續測量。其等效電路分析功能支持7種不同的參數模型(三組件、四組件)，可協助客戶仿真組件的等效參數值。并支持RS232、 USB 、LAN和 GPIB PC聯機能力。
6632阻抗分析儀，支持各式各樣的測試治具與配件，例如可搭配介電系數治具，使PCB板設計人員能充分了解材料的介電特性以便精準的Layout線路，減少產品不良的情況發生，導磁系數治具，各種環形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽涂層材料的導磁系數量測，和懸臂治具，各種尺寸貼片組件或電路板上組件阻抗量測。讓量測步驟變得更為簡易及快速。6632為分析電子組件、和材料特性*的量測神器。
量測精準度及多功能性為種不同類型的工作和應用程序高要求，用戶包括半導體、組件廠商、研發單位、進料檢驗、實驗室、學生。
信號源頻率范圍： DC, 10Hz ~ 3 / 5 / 10 / 20 / 30MHz
信號源位準： 10mV ~ 2V / 200μA ~ 20mA
基本阻抗量測精度 ±0.08%
自動電平控制（ALC）功能
輸出阻抗25Ω/100Ω 可切換
除基本量測及繪圖分析功能，更支持介電及導磁系數量測
超快量測速度 < 3ms
開路／短路／負載校正功能
電表模式下多可選擇四個組件參數，電感值及DCR 值可同時量測和顯示
自動組件分類： 比較器功能及Handler 接口BIN 分類功能
內建直流偏置電壓 -12到+12V
USB/ GPIB/ LAN/RS232 接口，實現快速自動化與數據存取功能
可選購 PC 聯機數據分析軟件
超低功耗 < 30W，無風扇設計，*
規格
| 測試頻率 | 6332-3, 6332-3G | 10Hz ~ 3MHz |
| 6332-5, 6332-5G | 10Hz ~ 5MHz | |
| 6332-10, 6332-10G | 10Hz ~ 10MHz | |
| 6332-20, 6332-20G | 10Hz ~ 20MHz | |
| 6332-30, 6332-30G | 10Hz ~ 30MHz | |
| 小分辨率 | 100mHz, 6位頻率輸入 | |
| 準確度 | 7 ppm±100mHz | |
| 基本測量準確度 | ± 0.08% | |
| AC 量測 | 測試信號電壓范圍 | 10mV - 2Vrms |
| 電壓小分辨率 | 1mV | |
| 準確度 | ALC ON：6％ * 設定電壓 ±2mV ALC OFF：10％ * 設定電壓 ±2mV | |
| 測試信號電流范圍 | 200µA - 20mArms | |
| 電流小分辨率 | 10µA | |
| 準確度 | ALC ON：6％ * 設定電流 ± 20µA ALC OFF：10％ * 設定電流 ± 20µA | |
| 測量時間 | < 3mS | |
| 輸出阻抗 | 可切換25Ω、100Ω (標稱值) | |
| 測試參數 | |Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(品質因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、 Vdc-Idc(直流電壓電流)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電系數)、μr (相對導磁系數) | |
| 測量模式 | Meter 模式、圖形掃描*，多步列表 *圖形掃描為G系列機型功能 | |
| 校準功能 | 開路、短路、負載 | |
| 等效電路 | 串聯、并聯 | |
| 等效電路模型分析 (選購) | 三組件 (4 種模型)、四組件(3 種模型) | |
| 多步列表測試 | 50組多步測試設定（每組15個測試步驟） | |
| 內建直流偏置電壓 | -12到+12V, 100Hz to 30MHz | |
| PC LINK/CPK報表環境 | 選購 | |
| 內部儲存內存 | 100組LCR儀器設定文件 | |
| 外部USB內存 | LCR儀器設定文件、BMP圖像、測試數據 | |
| 界面 | I/O 界面 | Handler |
| 串行通訊接口 | USB、RS232 | |
| 并行通訊接口 | GPIB | |
| 顯示器 | 7.0”TFT, 800x480彩色屏幕 | |
| 操作環境 | 溫度: 10℃ ～ 40℃, 濕度: ≦80%RH | |
| 電源要求 | 電壓 | 90V ～ 264Vac |
| 頻率 | 47Hz ~ 63Hz | |
| 功耗 | 低功耗設計：大30W (標稱值) | |
| 體積 (W*H*D) | 359x147x343 mm | |
| 重量 | 3.95 kg | |
阻抗分析儀 6632-3/3S參數量測范圍
| |Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| |Y| | 0.00000 uS to 999.999 kS |
| G, B | ± 0.00000 uS to 999.999 kS |
| θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
| θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
| Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
| Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
| D | ± 0.00000 to 9999.99 |
| Q | ± 0.00 to 9999.99 |
| Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
| Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
| εr'' | 0 to 100000 |
| μr'' | 0 to 100000 |
應用范圍
| 被動組件 | 電容器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體 |
| 半導體組件 | 變容二極管之 cv 特性分析、二極管 |
| 介電質材料 | 塑料、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估 |
| 導磁材料 | |
| 其他組件 | 電路板上的組件阻抗評估 |
標準配件
高頻DIP組件測試治具(FX-0000C6)
選購配件 凱爾文測試夾線含BNC Box(F423906A)
BNC測試延長線(F6630/A/B/C)
介電常數治具(FX-0000C7)
導磁系數治具(FX-0000C8)
材料測試治具(FX-0000C9)
高頻精密型下壓式SMD測試治具(FX-000C10)
高頻精密行鑷子式測試線夾(FX-000C11)
高頻精密型SMD測試治具(FX-000C12)
