| 品牌 | PANALYTICAL/帕納科 |
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帕納科Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀
帕納科Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀
Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀構建在其前代產品的經驗和成功的基礎之上，采用了激發和檢測技術的成果。該儀器運行穩定，操作簡便，對整個元素周期表中元素均具備的分析性能。Epsilon 3XLE 光譜儀依靠各種軟件模塊是一款經濟實惠、高度靈活的分析工具，適用于各種應用場合。
帕納科Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀具有如下特點：
通過智能激發和檢測設計實現高靈敏度
市場的輕元素性能
確保X射線安全
*的數據可追溯性
符合法規
在線支持
高度靈活的分析工具，適用于各種應用場合：Epsilon 3XLE - 具有改進的和擴展的輕元素功能（C - Am），用于實現更高的樣品生產量
Epsilon 3XLE 中配備的SDDultra硅漂移探測器甚至可以分析超輕元素，例如碳、氮和氧。
帕納科Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀可以處理類型廣泛的樣品，包括固體、稀松或壓片粉末、液體和濾片，重量從幾毫克到更大的實體樣品不等。
帕納科Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀廣泛應用于石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
帕納科Epsilon 3XLE 臺式能量色散型X射線熒光光譜儀光譜儀配有各種行業軟件可選：
Omnian - *的無標樣分析軟件；針對多種不同類型未知材料樣品，實現快速可靠的定量分析。
Oil-Trace - 石化行業軟件；于解決對石油和石化進行分析時常面臨的挑戰的創新軟件包。
Stratos - 涂層厚度軟件；Stratos模塊采用的算法可同步確定化學成分和分層材料的厚度。
FingerPrint - “指紋識別"軟件；采用快速的光譜數據統計分析，可用于更全面的診斷分析的常規成分測定。
