PHL應力雙折射測量儀 WPA-200-XL主要特點：
- 操作簡單，測量速度可以快到3秒。
- 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
- 測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。
- 具有多種分析功能和測量結果的比較。
- 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
PHL應力雙折射測量儀 WPA-200-XL主要用途:
- 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）
- 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
- 高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）
- 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
PHL應力雙折射測量儀 WPA-200-XL 技術參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（標準） |
7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制，CD模式 |
