WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,*的測量技術(shù),高速而又精確的測量能力使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。可測數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器,用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂,量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。WPA-200-XL應(yīng)力測量儀
WPA-200-XL應(yīng)力測量儀
主要特點(diǎn):
- 操作簡單,測量速度可以快到3秒。
- 采用CCD Camera,視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。
- 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
- 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
- 維護(hù)簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
主要應(yīng)用:
- 光學(xué)零件(鏡片、薄膜、導(dǎo)光板)
- 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)
- 高分子材料(PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA)
- 透明基板(玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石)
技術(shù)參數(shù):
項(xiàng)次 | 項(xiàng)目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項(xiàng)目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應(yīng)力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm(標(biāo)準(zhǔn)) |
7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
8 | 選配功能 | 實(shí)時(shí)解析軟件,鏡片解析軟件,數(shù)據(jù)處理軟件,實(shí)現(xiàn)外部控制,CD模式 |
測量案例: