立式光學計LG-1
本儀器通過兩種測量方式：目鏡讀數和投影讀數，是采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級精度柱型規及各種圓柱形
用途 Applications：立式光學計LG-1 本儀器通過兩種測量方式：目鏡讀數和投影讀數，是采用量塊或標準零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級精度柱型規及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工，對鋁箔、包裝薄膜、紙張等厚度測量，用于大專院校、計量測試部門等企業。 立式光學計LG-1 |
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技術規格 MAIN SPECIFICATIONS
被測件大長度 Max. measured length | 180 mm |
直接測量范圍 Measuring range | ±0.1 mm |
分劃板分度值 Scale graduation | 1 μm |
總放大倍數 Total magnification | 1000 x |
測量壓力 Measuring pressute | (2±0.2) N |
示值變動性Instability | 0.1 μm |
大不準確度 Max. inaccuracy | ±0.25 μm |
目鏡讀數方式 Reading mode | 分劃板讀數（高清晰分劃板） Scale |
投影讀數方式 Reading mode | 分劃板放大讀數 Scale |
大測量誤差 Max. measurement error | ±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm計 L is the measured length in mm |
儀器體積Dimensions | 340×160×410 mm |
儀器重量Weight | 30 kg |
標準配件 Standard attachments | 可調帶筋園臺Ribbed circular stage, adjustable 可調園平臺Planar circular stage, adjustable 帶筋固定方臺Ribbed square stage, fixed 平面測帽Planar contact tip, Ф2 平面測帽Planar contact tip, Ф 8 小球面測帽Small spherical contact tip 刃形測帽Knife contact tip |
選購件Option | 三點工作臺 |
