B1000系列光纖干涉?zhèn)鞲衅?/strong>2D光纖式干涉?zhèn)鞲衅魇且环N精度可達次微米量級的非接觸式位移測量系統(tǒng)，對于表面漫反射或鏡反射之物體乃至透明材質(zhì)皆可測量其位移或厚度，基于出光與回傳信號路徑同軸之特性，光纖式干涉?zhèn)鞲衅?/span>亦適合于深孔/盲孔工件等量測應用.
特點：B1000系列光纖干涉?zhèn)鞲衅?/strong>
• 非接觸式光學共焦測量技術(shù), 具有超高分辨率及同光軸回傳訊號不會被遮擋之特性
• 光纖傳輸彩色編碼測頭設計, 其結(jié)構(gòu)輕巧且內(nèi)部不含電子零件而不受環(huán)境干擾影響
• 采用白光(可見光)光源系統(tǒng),相較激光光源而言安全防護要求低
• *多層材質(zhì)量測演算法, 可測量透明／半透明多層材質(zhì)間之厚度或間隙
優(yōu)勢：
• 穩(wěn)定測量各類材質(zhì), 例如金屬／陶瓷／鏡面／玻璃等
• 適用于各種工件形貌（包含深孔／斜面／弧面）之特征尺寸測量, 例如高度／段差／厚度／平面度／輪廓度等
• 高溫高壓等嚴苛操作條件下亦能正常使用
• 測頭結(jié)構(gòu)輕巧, 易整合于各行業(yè)之自動化測量應用
光學頭 | LDS-125 | LDS-320 | LDS-510 |
測量范圍 | 2[mm] | 4[mm] | 6[mm] |
工作距離 | 18±1[mm] | 33±2[mm] | 55±3[mm] |
分辨率*1 | 0.05[μm] | 0.2[μm] | 0.1[μm] |
線性度*2 | ±0.25[μm] | ±2[μm] | ±0.5[μm] |
光斑直徑*3 | 25[μm] | 40[μm] | 45[μm] |
大傾角*4 | ±22[deg] | ±7[deg] | ±11[deg] |
尺寸(ΦxL) | Φ34x78.4[mm] | Φ15x55[mm] | Φ33x75[mm] |
重量 | 105[g] | 24[g] | 122[g] |
防護等級 | IP40 | IP40 | IP40 |
控制器 | PSC-B1000 | ||
光源 | WhiteLED | ||
尺寸(LxWxH) | 96x136x136[mm] | ||
重量 | 1.65[kg] | ||
額定電壓 | 24[VDC] | ||
通信接口 | RS-232:115200 bps(max.) | ||
防護等級 | IP 20 | ||
采樣周期 | 0.5~10[10MS] | ||
IO功能 | 觸發(fā)輸入、模擬量輸出 | ||
