X射線熒光光譜儀
具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F（9）～U（92）之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51
【儀器簡介】
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。
【儀器名稱】掃描型X射線熒光光譜儀（XRF）
【型號】日本電子JSX-3400R
【生產廠家】日本電子株式會社
【主要特點】液氮制冷型探頭、世界探頭等分辨率、同等時間內檢出限度、測試時間短、各類優異軟件、能量過濾裝置等。該產品世界各地，在同類型產品中性能，其穩定優異性能深受廣大用戶的好評與青睞。
【主要應用領域】電子行業、機械制造、醫療衛生、生態研究、 冶金有色、食品工業和商業、珠寶首飾、地質勘探、煤炭、造紙、建材行業、考古、商檢、電鍍行業、鋼鐵行業、石化、稀土、石英砂、金鋼砂、陶瓷等許多領域得到了越來越廣泛的應用。
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