項目 | 規格 |
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產地 | 日本 |
測定元素范圍 | 鈉(Na11)~鈾(U92)※ 需選配氦氣充填系統 |
樣品型態 | 固體、液體、粉末皆可 |
X射線源 | 管電壓: 15 kV、30kV、40 kV、50 kV(可調式) 管電流:1mA(10~1000μA自動調整ZUI適電流輸出) |
X射線照射方向 | 上方垂直照射型 |
檢測器 | Vortex SDD(Hitachi專LI,多陰極硅半導體檢測器) |
冷卻方式 | 電子冷卻(不需液態氮) |
準直器(分析區域) | 0.2、0.5、1.2、3mmφ(自動切換) |
樣品觀察 | 高解析、高分辨率彩色CCD鏡頭 |
濾波器 | 六種模式(自動切換) |
樣品ZUI大可掃描范圍 | 250(W)×200(D)×150(H) mm |
儀器尺寸 | 750(W)×740(D)×783(H) mm |
重量 | 160Kg(不含計算機及屏幕) |
掃描分析功能 | ■ 高解析、高分辨率CCD鏡頭 ■ 雷射自動對焦系統(誤差小于1mm) ■ 連續500點掃描分析 ■ 掃描路徑紀錄系統 ■ 微小部件掃描分析 ■ 微小異物查找(分辨率20um以下) |
定性分析功能 | ■ 微量元素成份定性分析 ■ 元素分析 ■ 能譜比對 ■ 元素自動辨別比對 |
定量分析功能 | ■ 微量元素成份定量分析 ■ RoHS有害物質分析 ■ 無鹵規范有害物質分析 ■ EN71-3有害物質分析 ■ 電鍍膜厚測定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析檢量線法 ■ HS快速分析模式 |
標準配件 | ■ EA 系列專用桌上型Dell計算機(含液晶屏幕、鼠標、鍵盤) ■ RoHS塑料有害物質標準品(日本國家YIJI認證單位Jab認證) ■ 儀器硬件確認片一組(含強度、能量、分辨率及光徑校正) ■ 樣品杯 ■ 樣品杯用測試薄膜 |
可加購選項 | ■ 氦氣充填系統 ■ 操作游戲桿 ■ 信號燈 ■ 特殊式樣專用載臺 ■ 樣品置放治具 ■ 環境限制用標準物質(無鹵、EN71-3、Sb銻、Sn錫、P磷、S硫) ■ 金屬電鍍膜厚標準品 ■ 油壓機與制錠機 |
設置需求 | 建議桌面尺寸:1500(W)×1000(D) mm 使用電源:AC100~240V(50~60Hz)/400VA |