儀表表盤玻璃加工工藝納米級(jí)相位差測(cè)量
超過(guò)10000nm的測(cè)量范圍，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了一般雙折射率測(cè)量的上限。L-H更是給您一個(gè)更大的觀察視場(chǎng)
超寬范圍雙折射測(cè)試儀
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)居世界前列，并由此開(kāi)發(fā)出的測(cè)量?jī)x器。
主要產(chǎn)品分四部分：
· n 光子晶體光學(xué)元件；
· 雙折射和相位差評(píng)價(jià)系統(tǒng)；
· 膜厚測(cè)試儀；
· 偏振成像相機(jī)。
『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測(cè)量裝置 WPA/PA系列
· 快速定量測(cè)量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
· 相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布
PA/WPA系統(tǒng)特點(diǎn)：
· 操作簡(jiǎn)單/快速測(cè)定：*的偏振成像傳感器進(jìn)行簡(jiǎn)單的和快速的操作即可測(cè)量相位差的分布
· 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測(cè)樣品的特性。
· 大相位差測(cè)試能力（WPA系列）：通過(guò)對(duì)三組不同波長(zhǎng)的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測(cè)量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。
偏光圖像傳感器的結(jié)構(gòu)和測(cè)試原理
超寬范圍雙折射測(cè)試儀
超寬范圍的雙折射評(píng)價(jià)系統(tǒng) WPA-100-H,WPA-100-L-H
WPA-100-H和WPA-100-L-H提供了測(cè)量超過(guò)10000nm的測(cè)量范圍，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了一般雙折射率測(cè)量的上限。L-H更是給您一個(gè)更大的觀察視場(chǎng)。
超寬范圍雙折射測(cè)試儀
